010-87681080
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技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES北京品智創(chuàng)思臺(tái)階儀特點(diǎn)
2019-01-26 臺(tái)階儀屬于接觸式表面形貌測量儀器。根據(jù)使用傳感器的不同，接觸式臺(tái)階測量可以分為電感式、壓電式和光電式3種。其測量原理是：當(dāng)觸針沿被測表面輕輕滑過時(shí)，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時(shí)，還沿峰谷作上下運(yùn)動(dòng)。觸針的運(yùn)動(dòng)情況就反映了表面輪廓的情況。傳感器輸出的電信號(hào)經(jīng)測量電橋后，輸出與觸針偏離平衡位置的位移成正比的調(diào)幅信號(hào)。經(jīng)放大與相敏整流后，可將位移信號(hào)從調(diào)幅信號(hào)中解調(diào)出來，得到放大了的與觸針位移成正比的緩慢變化信號(hào)。再經(jīng)噪音濾波器、波度濾波器進(jìn)一步濾去調(diào)制頻率與外界干擾信號(hào)...橢偏儀SOPRALAB/KLA 在半導(dǎo)體工藝上的應(yīng)用
2019-01-25 公司提供匈牙利Semilab公司SE-2000型、SE-1000光譜型橢偏儀（原法國Sopra公司GES5-E）。WT-2000型、WT-1200A、WT-1200B型、WT-1000型少子壽命測試儀、DLS-83D深能級(jí)瞬態(tài)譜儀。SE-2000光譜橢偏儀（原法國Sopra公司）是的橢偏儀設(shè)備供應(yīng)商，其高精度橢偏儀在半導(dǎo)體、化合物半導(dǎo)體（GaAs/SiC）、LCD和MEMS領(lǐng)域有著非常廣泛的應(yīng)用。目前有超過500臺(tái)的Sopra橢偏儀應(yīng)用在各個(gè)行業(yè)。主要特點(diǎn)：高精度的薄膜測量（...臺(tái)階輪廓測試儀kia-tencor在半導(dǎo)體的應(yīng)用
2019-01-25 儀器簡介：應(yīng)用：◆薄膜厚度測量；◆樣品表面形貌測量；◆薄膜應(yīng)力測量；◆樣品表面粗糙度/波紋度測量；◆樣品表面三維形貌測量等。技術(shù)參數(shù)：KLA-Tenco探針式臺(tái)階儀，可測量納米級(jí)至2毫米臺(tái)階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力，集高測量精度、多功能性和經(jīng)濟(jì)性于一體，是生產(chǎn)線及材料分析等應(yīng)用領(lǐng)域的理想選擇。因其具有6.0A(1σ)或0.1%臺(tái)階高度重復(fù)性以及分辨率,主要特點(diǎn)：◆Alpha-StepIQ采用天然金剛石作為探頭，經(jīng)久耐用。探針更換簡便、快速，軟件具有保護(hù)測針以...光學(xué)膜厚儀Filmetrics F20UVX在半導(dǎo)體制造的應(yīng)用
2019-01-25 FilmetricsF20薄膜測厚儀經(jīng)濟(jì)有效的Filmetrics薄膜厚度測量系統(tǒng),測量薄膜厚度僅需幾秒鐘。Filmetrics系列膜厚測試儀擁有單點(diǎn)測量、顯微鏡斑點(diǎn)測量、自動(dòng)測繪系統(tǒng)、在線監(jiān)測等功能型號(hào)的膜厚測試儀產(chǎn)品。Filmetrics膜厚測試儀產(chǎn)品輕點(diǎn)鼠標(biāo)就能測量1納米到13毫米的單層薄膜或多層薄膜堆厚度。幾乎所有的材料都可以被測量。直觀的設(shè)計(jì)意味著您能在幾分鐘內(nèi)完成個(gè)薄膜厚度測量！產(chǎn)品介紹：1有五種不同波長選擇(波長范圍從紫外220nm至近紅外1700nm)；2大樣...
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